Raltron自豪地為消費電子市場提供晶體,音叉晶體,時鐘振蕩器,鋸設(shè)備,陶瓷諧振器,LTCC RF陶瓷產(chǎn)品和天線。 該產(chǎn)品旨在滿足消費者應(yīng)用的關(guān)鍵要求,如電池操作相關(guān)的低尺寸,小尺寸和低功耗。Raltron Electronics致力于為符合歐盟議會和2011年6月08日理事會2011/65 / EU指令的頻率管理設(shè)備提供限制在電氣和電子設(shè)備中使用某些有害物質(zhì)(RoHS指令)。
RALTRON晶振公司集團作為“地球內(nèi)企業(yè)”,在保護地球環(huán)境方面發(fā)揮著領(lǐng)導作用。我們尊重歷史、文化和傳統(tǒng)的多樣性,并致力于“CSR經(jīng)營”和“環(huán)境經(jīng)營”。為取得社會的信任,為推動環(huán)境負荷最小化,RALTRON晶振集團還開展了各種各樣的活動。
Raltron晶振,石英晶體諧振器,R1612晶振.1612mm體積非常小的SMDcrystal器件,是民用小型無線數(shù)碼產(chǎn)品的最佳選擇,小體積的晶振被廣泛應(yīng)用到,手機藍牙,GPS定位系統(tǒng),無線通訊集,高精度和高頻率的穩(wěn)定性能,非常好的減少電磁干擾的影響,是民用無線數(shù)碼產(chǎn)品最好的選擇,符合RoHS/無鉛.
拉隆石英晶振產(chǎn)品的電極對于石英晶體元器件來講作用是1.改變頻率;2.往外界引出電極;3.改變電阻;4.抑制雜波。第1、2、3項相對簡單,第4項的設(shè)計很關(guān)鍵,電極的形狀、尺寸、厚度以及電極的種類(如金、銀等)都會導致第4項的變化。
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Raltron晶振 |
單位 |
R1612晶振 |
石英晶振基本條件 |
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標準頻率 |
f_nom |
26.000MHZ~60.000MHZ |
標準頻率 |
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儲存溫度 |
T_stg |
-40°C~+85°C |
裸存 |
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工作溫度 |
T_use |
-40°C~+85°C |
標準溫度 |
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激勵功率 |
DL |
50μW Max. |
推薦:1μW~100μW |
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頻率公差 |
f_— l |
±15× 10-6(標準), |
+25°C對于超出標準的規(guī)格說明, |
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頻率溫度特征 |
f_tem |
±15 × 10-6/-40°C~+85°C |
超出標準的規(guī)格請聯(lián)系我們. |
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負載電容 |
CL |
8pF、10pF |
不同負載電容要求,請聯(lián)系我們. |
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串聯(lián)電阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C,DL = 100μW |
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頻率老化 |
f_age |
±2× 10-6/ year Max. |
+25°C,第一年 |
抗沖擊
貼片晶振可能會在某些條件下受到損壞。例如從桌上跌落或在貼裝過程中受到?jīng)_擊。如果產(chǎn)品已受過沖擊請勿使用。
輻射
暴露于輻射環(huán)境會導致石英晶體性能受到損害,因此應(yīng)避免照射。
化學制劑 / pH值環(huán)境
請勿在PH值范圍可能導致腐蝕或溶解進口晶振或包裝材料的環(huán)境下使用或儲藏這些產(chǎn)品。
粘合劑
請勿使用可能導致SMD晶振所用的封裝材料,終端,組件,玻璃材料以及氣相沉積材料等受到腐蝕的膠粘劑。 (比如,氯基膠粘劑可能腐蝕一個晶體單元的金屬“蓋”,從而破壞密封質(zhì)量,降低性能。)
鹵化合物
請勿在鹵素氣體環(huán)境下使用無源晶振。即使少量的鹵素氣體,比如在空氣中的氯氣內(nèi)或封裝所用金屬部件內(nèi),都可能產(chǎn)生腐蝕。同時,請勿使用任何會釋放出鹵素氣體的樹脂。Raltron晶振,石英晶體諧振器,R1612晶振
靜電
過高的靜電可能會損壞無源晶振,請注意抗靜電條件。請為容器和封裝材料選擇導電材料。在處理的時候,請使用電焊槍和無高電壓泄漏的測量電路,并進行接地操作。
振蕩電路的檢查方法
振蕩頻率測量
必須盡可能地測量安裝在電路上的1612貼片晶振的振蕩頻率的真實值,
使用正確的方法。在振蕩頻率的測量中,通常使用探頭和頻率計數(shù)器。然而,
我們的目標是通過限制測量工具對振蕩電路本身的影響來測量。Raltron晶振,石英晶體諧振器,R1612晶振
有三種頻率測量模式,如下面的圖所示(圖)。2, 3和4)。最
精確的測量方法是通過使用任何能夠精確測量的頻譜分析儀來實現(xiàn)的。
接觸振蕩電路。
探針不影響圖2,因為緩沖器的輸出是通過輸入振蕩電路的輸出來測量的。
逆變器進入下一階段。
探針不影響圖3,因為在IC上測量緩沖器輸出(1/1、1/2等)。
圖4示出了來自ic的無緩沖器輸出接收的情況,由此通過小尺寸測量來最小化探針的效果。
輸出點之間的電容(3 pF以下XTAL終端IC)和探針。
然而,應(yīng)該注意到,使用這種方法1612mm晶振輸出波形較小,測量不能依賴于
即使示波器能檢查振蕩波形,頻率計數(shù)器的靈敏度也可以。在這種情況下,使用放大器來測量。
此外,1612mm小體積晶振振蕩頻率與測量點不同。
1。測量緩沖輸出
2。振蕩級輸出測量
三.通過電容器測量振蕩級輸出
圖5示出以上1-3個測量點和所測量的
除緩沖器輸出外,振蕩頻率較低。




泰藝晶振,貼片石英晶振,X3晶振
鴻星晶振,石英晶體諧振器,ETAB晶振
加高晶振,小體積晶體,HSX111SA晶振
京瓷晶振,貼片晶振,CX1612DB晶振,CT1612DB38400C0FLHA1晶振
村田晶振,MCR1612晶振,XRCFD26M000FYQ01R0晶振
ELM12W-38.000MHz-6-R120-D7X-T|1612mm|38MHz|6pf
SXT11410AA38-32.000M,10pf,-30~85°C,SUNTSU晶振
8Q-37.400MEEV-T,1612mm,37.4MHz,超小型石英晶振
MERCURY晶振,1612mm,X11-26.000-16-30/30Y/20R,6G無線網(wǎng)絡(luò)晶振